WIT-220 矽光晶圓測試探針（zhēn）台

WIT-220晶圓光電測試探（tàn）針（zhēn）係統綜合考慮穩定性、電噪聲處理、空間布局等設（shè）計要求（qiú），采用精（jīng）密運動控製係統，高性能隔振係統，結合自主研（yán）發圖像軟件算法，實（shí）現高穩定性小模斑芯片光性能和高精度電性能測試，能夠滿足高精（jīng）度（dù）光測試指標以及pA/nA微信號（hào）測量應用要求，可提前在（zài）晶圓級別篩選不良芯片，防（fáng）止流（liú）入後端工藝，節約整體（tǐ）封測成本，提（tí）高研發以及生產效率。