CA-6000 芯片自動耦合（hé）測試係統

CA-6000 芯片自動（dòng）耦合測試係統由亞微米級高精（jīng）度移動平台、高性能隔振係統、多方（fāng）位視覺檢測係統（tǒng）構建（jiàn）而成。該係統采用自主研發上位機軟（ruǎn）件、融合圖像識（shí）別及人工智能算法，實現自動對光、自動壓接探針卡等操作，中間過程無需人工參與，大大提高測試效率及精確度，進一步為客戶降本增效。