半導體激光二級管可靠性（xìng）老化（huà）測試係統

采用半導體（tǐ）激光器（qì）壽命和老化測試係統，可以減少測試成本，提高（gāo）測試效率。係統包含40個可獨立（lì）加溫（wēn）及加（jiā）載電流的（de）老化抽屜，最多可（kě）支持1280個器件的測試。您可以同時進行（háng）多個獨立的測試（shì），提高（gāo）產量，降低成本。此係統設計非常彈性，允許您在一（yī）個係統測試多種不同的封裝形（xíng）式，隻需更換不（bú）同的老化抽（chōu）屜即可。係統支持ACC和LIV測試，每一個通道的電流典型值為200mA，可最大定製到2000mA輸出。