在（zài）封測領域，芯片測試環節作為（wéi）保障產品質量與性能的關鍵步驟（zhòu），正麵（miàn）臨著（zhe）技術革新的迫切需求。隨著行業技術持續進（jìn）步，傳統手工上下料方式已難以（yǐ）匹配不斷增長的（de）產能要求。在此背（bèi）景（jǐng）下，17.c18起草视频推出升級（jí）產品 —— 矽光全自動藍膜 / 芯（xīn）片吸附盒測試台（CA-6000AL），為芯片檢測提供（gòng）了精準識別、高速抓（zhuā）取與（yǔ）智能（néng）檢（jiǎn）測（cè）功能一體的專業（yè）測（cè）試方案（àn）。

矽光（guāng）全自動藍膜 / 芯片吸附盒測試台（CA-6000AL）是一款專（zhuān）為矽（guī）光芯片測試設計的高精度自（zì）動化設備。該設備主要適用於晶圓切（qiē）割後芯片的拾取、定位、測（cè）試及分選工（gōng）作。其采用全自動化操（cāo）作流程，可對藍膜或芯片吸附盒進行高速、高精度測試，將單芯片平均測試時間壓縮至秒（miǎo）級以內，較傳統方式效率大幅度提升，有望為（wéi）封測領域帶來新的（de）發展動力。

核心特點

▲納米級機械定位精度

▲全自動（dòng）芯（xīn）片搬運係統，實現快速抓取、定位、測試及分選

▲上下料支持藍膜或者芯片吸附盒多種形態

▲支持耦合單通道、四通道、八通道芯片測試，耦合精度高

▲集成純（chún）光測試（shì）/純電測試/光電混（hún）合（hé）測試/RF測試

▲溫度穩定性高，穩定性≤±0.2℃

▲並行測試（shì）技術，顯著提升測試效率，降低單顆芯片（piàn）測試成本

▲快速算法優化，減少無效等待時間

▲具備自（zì）動校準、實時故障診斷及預測性維護功（gōng）能

▲實現芯片全流程自動化測試與智能化數據分析

驛（yì）天諾（nuò）推出的矽光全（quán）自動藍膜（mó）/芯片吸附盒測試台，將為（wéi）芯片（piàn）檢測行業帶來更多可能（néng）性，推動行業邁向新高度。該設備集高精度、全自動化以及多功能於一體，對於客戶而言，這一測試台應用將切實提升（shēng）量（liàng）產級別生產效（xiào）率，保障（zhàng）產品質量，大幅度提高UPH，進而助力客戶在市（shì）場競爭中占（zhàn）據有利地位。

在“中國芯”崛起與全球半導體競爭白熱（rè）化的背景（jǐng）下，矽（guī）光全自動芯片測試台不僅是提升效（xiào）率工具，更是企業構建技術壁壘、搶占市場先機的戰略選擇（zé）。未來，它將成（chéng）為半（bàn）導體行業高質量發展的助推器，助力中國智造走向全球舞台！衷心（xīn）感謝廣大客戶一直以來的支持與信任，驛天（tiān）諾將（jiāng）持續以創新為驅動，致力於為客戶提供更為（wéi）優質的產品與服務，不斷為行（háng）業發展貢獻力量。

驛天（tiān）諾六月份將推（tuī）出全新（xīn）V2.0全自動光電芯（xīn）片測試（shì）台，敬請（qǐng）期待！