封測係統(tǒng)

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LHX-305-COC 激光(guāng)器老化係統(tǒng)

采用LHX-305-COC半導體激光器壽命老化(huà)係統(tǒng),可(kě)以減少測試成本,提(tí)高測(cè)試效率。目前係(xì)統包含1個老化機箱及1個老化(huà)測試抽屜,可同時對32顆CW芯片進行獨立加電老化(huà)。結合用戶擴容(róng)需求,目前結構上(shàng)按照1個老化機箱及4個老化測試抽屜設計(jì),未來可(kě)通過增加機(jī)架支撐擴展至(zhì)多層老化機箱,最大可容納40個可獨立加溫及加載電流的老(lǎo)化測試抽屜,同時支持1280個(gè)器件的老化(huà)。用(yòng)戶(hù)可以同時進行多個獨立的老化,提高產量,降低成本。

產品特點

  • 高密度,最(zuì)高可同時老化1280支激光器
  • 溫度控製範圍從40°C到150°C
  • 電流以芯片為單位輸出(chū)
  • 支持TO、蝶形、COC及定製封裝
  • 探針間距300µm(可支持(chí)定製至150µm)
  • 每通道電流源獨立,範圍可達到500mA
  • 電流(liú)模式:ACC、熱插拔,操作簡便,數據管理安全可靠
  • 模塊化設計,便於擴展

產品應用

LHX-305-COC的係統設(shè)計非常彈性,允許您在(zài)一個係統測試多種不同的封裝形式,隻需更換不同的老化(huà)測試抽屜即可。係統支持ACC獨立老化,每一個通道的電流(liú)典型值為500mA。Reliability Sys軟件可以幫助您更加快捷(jié)的進行測試。您可以方便的配置多種器件類型(xíng)和測試方式,軟件自動分析、保存及導出測試結果,提供多種報錯(cuò)模式處理,不需要客戶進行任何額外的編程,即使掉電也不會影響到(dào)數據的完整性。也可以將數據導入到csv文件(jiàn)中,通過其它軟(ruǎn)件分析。

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