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CBT-C090A矽光芯片老化測試係統（tǒng），采用1個老化機箱配置4個老化測試抽屜的（de）設計，可同時對多個（gè）芯片進行老化測試，減少測試成本，提高測試效率。結合客戶擴容需求，未來可通過增加機架（jià）支撐擴展至多層老化機箱，最大（dà）可容納40個可獨立加溫及（jí）加載電流的老化測試抽屜，支持更多器件同（tóng）時獨立老化測試，提高產量，降低（dī）成本。
CBT-C090A老化測試（shì）係統加（jiā）電方式獨（dú）特，根據客戶的芯片尺寸和焊盤信息，夾具及芯片加（jiā）電可以采（cǎi）用探針加電（diàn）設計，通過PCB走線和連接器連接（jiē）到電源。老化夾具（jù）采用陶瓷片控溫，每個夾具加電和（hé）控溫獨立可控。 CBT-C090A老化測試係統設（shè）計非常有彈性，可提供多路恒（héng）壓源，能夠支持nA級電（diàn）流測試（shì），電流檢測值（zhí）可以通（tōng）過（guò）通信接口用於在線監控。同時，該產品（pǐn）兼容性（xìng）強，可（kě）滿足客戶定製（zhì）需（xū）求。
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