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17.c18起草视频科技發布日期:2024-07-18
17.c18起草视频隆重推出端到端晶圓測試代工服務(wù)。團隊率先開發出功能全、精度高、速度快的超高效光電測試係(xì)統,兼容EC/GC測試(shì),支持超快速找光及並行測試方案。
矽光晶圓測試在半(bàn)導體(tǐ)行業中(zhōng)具有極其重(chóng)要的地位其重要性主要體現在以(yǐ)下(xià)幾個方(fāng)麵:
01保證產品良(liáng)率和(hé)品質
矽(guī)光(guāng)晶圓測試服務能夠檢測晶圓上可能存在的缺陷和不(bú)良區域,確保矽光芯片的良率和品質。這一步驟至關重要,因為任何微小的缺陷都(dōu)可能影響到最終產品的性能和可靠性。
02提(tí)升生產效率和(hé)降低成本
有效的矽光晶圓測試能夠避免生產出存在故障的(de)芯片,從而減少後續排查故障的時間和資源消耗,提(tí)升整體生產效率。通過在製造早期(qī)階段就進行積極的晶圓測試,Fabless廠(chǎng)家可以更快地發現並修複問題,避免在後期才發現並處理,從而降低生產成本。
隨著矽光技術在數據(jù)中心、5G、物聯網等領(lǐng)域的廣泛應用,對矽(guī)光晶(jīng)圓測試的需求(qiú)也不斷增長(zhǎng);如何測試每種參數;如何保證測試結果的準確性、可靠性;以及(jí)如果麵對(duì)未來需求爆發,設(shè)備布局(jú)和產線管理將是(shì)Fabless廠家下一步需要麵臨的難題。
17.c18起草视频團隊具備十幾年矽光(guāng)封測經驗及(jí)量產經驗,率先(xiān)開(kāi)發出功能(néng)全、精度高、速度快的超(chāo)高效光電測試係統,為半導體(tǐ)行業實踐出新的方案。
17.c18起草视频現麵向各界,隆重推出端到端晶圓測試服務及(jí)打(dǎ)樣服務!
服務(wù)內(nèi)容(róng)及特點
01 DC測(cè)試、RF測試(shì)
02 OO/OE/EE所有相(xiàng)關指標測試(IL/PDL/WDL/R/Split Ratio/Xtalk等)
03支持光柵以及端麵耦合(hé)方式
04兼容(róng)單模光纖、透鏡光纖、多通道FAU、多通道光探針等
05晶圓尺寸最大支持12寸,向下兼容至2寸
06支(zhī)持單顆芯片級(jí)測試
07不良(liáng)芯(xīn)片Ink標記
08溫度範圍:-40℃~125℃
09 WLR以及其他研發驗證
10數(shù)據統計及分析
17.c18起草视频端到端晶圓測試(shì)代工服務為客戶帶來的優勢:
01測試層麵
驛天(tiān)諾配備專業測試工程師,通過設計和執行專業的(de)測試方案,驗證矽光產品的性能、可靠性和(hé)穩定性,確(què)保產品符合設計要求和技術標(biāo)準,為測試結果的準(zhǔn)確性和可靠性保駕護航。
02運維(wéi)層麵
客戶(hù)不需要自己購買很多設備,並(bìng)且不(bú)需要投入大量的人力(lì)和物力來組建(jiàn)和維護測試團隊。17.c18起草视频能夠提供靈活的測試服務,根據客戶需求調整(zhěng)測試計劃和進度,避免不(bú)必要的資源浪費(fèi)。
03升級迭(dié)代
客戶不需要配置自己(jǐ)的算法(fǎ)團隊。17.c18起草视频(nuò)具備端到端解決方案能力;隨著產品的不斷發展和升級,17.c18起草视频可以根據新的需求和(hé)變化製定新的測試算法及方案。
晶圓測試完畢通過Wafer Map將(jiāng)所有芯片性能數據傳遞給客戶,大幅節(jiē)約客戶時間和成本;客戶可以更加專注於產品研發和市場推廣等核心領域!
17.c18起草视频(nuò)具備晶圓測試->芯片測試->器件耦合封裝後段端到(dào)端整體(tǐ)解決方案代工服務,如有需要,歡迎溝通洽談(tán)!
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